ELECTRON DIFFRACTIONAN ALYSIS OF POLYCRYSTALLINE STRAIN-SENSITIVE FILMS (BIXSB1-X) 2TE3
Article Sidebar
Main Article Content
Abstract
In this work, we studied the structure of the crystalline phases of the Bi ~ Sb-Te system obtained under various condensation conditions (the condensation rate W, the substrate temperature Tn), and the results of calculating interplanar distances from the data of the intensity of diffraction reflections.
Article Details
References
П.Хирли, А.Хови, Р.Никонсон, Д.Пэшли, М. Уэлан. Электронная микроскопия тонких кристаллов.- М.:Мир.- 1974. 2. Дж.Каули. Физика дифракции.−М.:Мир.-1979. 3. В.М. Грабов, Е.В. Демидов, В.А. Комаров. ФТТ, 50 (7),1312 (2008). 4. М.М.Стасова, О.Г.Карпинский. О слойности в структурах селенидов и теллуридов висмута и теллуридовсурьмы.//Журнал структурной химии.-1967.-Т.8.-№1. 5. В.А. Комаров, В.М. Грабов, А.В. Суслов, Н.С. Каблукова, М.В. Суслов. Эффекты Холла и Зеебека в тонких пленках висмута на подложке из слюды в диапазоне температур 77−300K. Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, вып. 5. 6. Онаркулов К.Э., Юлдашев А.А., Азимов Т., Йўлдошқори Ш. //Висмут-сурьма теллуриди юпқа пардаларнинг электрофизик хоссаларига технологик жараённинг таъсири. “ФарДУ. Илмий хабарлар-научный вестник ФерГУ”. -2017. -№2.