ЭЛЕКТРОНОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ТЕНЗОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ПЛЕНОК (BIXSB1-X)2TE3

##plugins.themes.bootstrap3.article.sidebar##

PDF
Nashr qilingan: iyn 27, 2023
Kalit so‘zlar:
электронограмма, микродифракции, дифрагированный, толщина, пленка, интенсивность.

##plugins.themes.bootstrap3.article.main##

М.Ахмедов
Fergana State University
Х.Далиев
Fergana State University
М.Онаркулов
Fergana State University

Annotatsiya

В работе исследована структура кристаллических фаз системы Вi~Sb-Те,полученных в различных условиях конденсации (скорость конденсации W, температура подложки Тп), приведены результаты расчета межплоскостных расстояний из данных интенсивности дифракционных отражений.

##plugins.themes.bootstrap3.article.details##

Qanday qilib iqtibos keltirish kerak
М.Ахмедов, Х.Далиев, & М.Онаркулов. (2023). ЭЛЕКТРОНОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ТЕНЗОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ПЛЕНОК (BIXSB1-X)2TE3. Farg’ona Davlat Universiteti, (6), 26. Retrieved from https://journal.fdu.uz/index.php/sjfsu/article/view/608
Maqola
№. 6 (2019): FarDU ilmiy xabarlar jurnali
Bo‘lim
Ilmiy axborot

Foydalaniladigan adabiyotlar

П.Хирли, А.Хови, Р.Никонсон, Д.Пэшли, М. Уэлан. Электронная микроскопия тонких кристаллов.- М.:Мир.- 1974. 2. Дж.Каули. Физика дифракции.−М.:Мир.-1979. 3. В.М. Грабов, Е.В. Демидов, В.А. Комаров. ФТТ, 50 (7),1312 (2008). 4. М.М.Стасова, О.Г.Карпинский. О слойности в структурах селенидов и теллуридов висмута и теллуридовсурьмы.//Журнал структурной химии.-1967.-Т.8.-№1. 5. В.А. Комаров, В.М. Грабов, А.В. Суслов, Н.С. Каблукова, М.В. Суслов. Эффекты Холла и Зеебека в тонких пленках висмута на подложке из слюды в диапазоне температур 77−300K. Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, вып. 5. 6. Онаркулов К.Э., Юлдашев А.А., Азимов Т., Йўлдошқори Ш. //Висмут-сурьма теллуриди юпқа пардаларнинг электрофизик хоссаларига технологик жараённинг таъсири. “ФарДУ. Илмий хабарлар-научный вестник ФерГУ”. -2017. -№2.