ЭЛЕКТРОНОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ТЕНЗОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ПЛЕНОК (BIXSB1-X)2TE3
Kalit so‘zlar:
электронограмма, микродифракции, дифрагированный, толщина, пленка, интенсивность.Annotatsiya
В работе исследована структура кристаллических фаз системы Вi~Sb-Те,полученных в различных условиях конденсации (скорость конденсации W, температура подложки Тп), приведены результаты расчета межплоскостных расстояний из данных интенсивности дифракционных отражений.
Adabiyotlar
П.Хирли, А.Хови, Р.Никонсон, Д.Пэшли, М. Уэлан. Электронная микроскопия тонких кристаллов.- М.:Мир.- 1974. 2. Дж.Каули. Физика дифракции.−М.:Мир.-1979. 3. В.М. Грабов, Е.В. Демидов, В.А. Комаров. ФТТ, 50 (7),1312 (2008). 4. М.М.Стасова, О.Г.Карпинский. О слойности в структурах селенидов и теллуридов висмута и теллуридовсурьмы.//Журнал структурной химии.-1967.-Т.8.-№1. 5. В.А. Комаров, В.М. Грабов, А.В. Суслов, Н.С. Каблукова, М.В. Суслов. Эффекты Холла и Зеебека в тонких пленках висмута на подложке из слюды в диапазоне температур 77−300K. Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, вып. 5. 6. Онаркулов К.Э., Юлдашев А.А., Азимов Т., Йўлдошқори Ш. //Висмут-сурьма теллуриди юпқа пардаларнинг электрофизик хоссаларига технологик жараённинг таъсири. “ФарДУ. Илмий хабарлар-научный вестник ФерГУ”. -2017. -№2.
