ЭЛЕКТРОНОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ТЕНЗОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ПЛЕНОК (BIXSB1-X)2TE3
Ключевые слова:
электронограмма, микродифракции, дифрагированный, толщина, пленка, интенсивность.Аннотация
В работе исследована структура кристаллических фаз системы Вi~Sb-Те,полученных в различных условиях конденсации (скорость конденсации W, температура подложки Тп), приведены результаты расчета межплоскостных расстояний из данных интенсивности дифракционных отражений.
Библиографические ссылки
П.Хирли, А.Хови, Р.Никонсон, Д.Пэшли, М. Уэлан. Электронная микроскопия тонких кристаллов.- М.:Мир.- 1974. 2. Дж.Каули. Физика дифракции.−М.:Мир.-1979. 3. В.М. Грабов, Е.В. Демидов, В.А. Комаров. ФТТ, 50 (7),1312 (2008). 4. М.М.Стасова, О.Г.Карпинский. О слойности в структурах селенидов и теллуридов висмута и теллуридовсурьмы.//Журнал структурной химии.-1967.-Т.8.-№1. 5. В.А. Комаров, В.М. Грабов, А.В. Суслов, Н.С. Каблукова, М.В. Суслов. Эффекты Холла и Зеебека в тонких пленках висмута на подложке из слюды в диапазоне температур 77−300K. Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, вып. 5. 6. Онаркулов К.Э., Юлдашев А.А., Азимов Т., Йўлдошқори Ш. //Висмут-сурьма теллуриди юпқа пардаларнинг электрофизик хоссаларига технологик жараённинг таъсири. “ФарДУ. Илмий хабарлар-научный вестник ФерГУ”. -2017. -№2.
