logo
O‘zbekcha

INFLUENCE OF DEEP IMPURITY ON PHOTOSENSITIVITY OF CdTe-SiO₂-Si HETEROSTRUCTURE

Mualliflar

DOI:

https://doi.org/10.56292/SJFSU/vol31_iss3/a160

Kalit so‘zlar:

CdTe heterostructures; deep levels; photosensitivity; impurity states; SiO₂; spectroscopy; photodetectors.

Annotatsiya

In this work, the influence of deep impurity levels on the photosensitivity of CdTe-SiO-Si heterostructures synthesized by thermal evaporation and subsequent annealing is considered. The presence and energy position of deep level defects in the CdTe layer were determined by temperature-dependent photoresponse and deep level transient spectroscopy. Our results show that the inclusion of deep impurity levels significantly changes the dynamics of photocarrier generation and recombination, leading to an increase in photosensitivity under sub-band illumination. In addition, a correlation between the type and concentration of deep level states and the spectral dependence of the photoresponse is shown. The results obtained are of great importance for the optimization of CdTe-based heterostructures in optoelectronic applications, including infrared photodetectors and solar cells.

Mualliflar haqida

  • Salim Otajonov, Fergana State University

    Fergana State University, d.p.m.s. professor

  • Nurzod Yunusov, Fergana State University

    Fergana State University, teacher

  • Sherzod Abdullayev, Fergana Technical University

    Fergana Technical University, Doctoral student

  • Javohir Boqirov, Fergana State University

    Fergana State University, Master's student

Adabiyotlar

1. A. Romeo, M. Terheggen, D. Abou-Ras, D.L. Bätzner, F.-J. Haug, M. Kälin, D. Rudmann, and A.N. Tiwari, "Development of thin-film Cu(In,Ga)Se₂ and CdTe solar cells," Prog. Photovolt. Res. Appl., vol. 12, no. 2-3, pp. 93-111, 2004.

2. J. Бритт и К. Ферекидес, "Тонкопленочный CdS/CdTe солнечный элемент с эффективностью 15,8%", Appl. Phys. Lett., vol. 62, no. 22, pp. 2851-2852,

1993.

3. H. Zogg, C. Maissen, and A. Nussbaumer, "CdTe гетероструктуры для фотоприемников и фотовольтаики", Semicond. Sci. Technol., vol. 7, no. 8, pp. B215-B221, 1992.

4. S. H. Wei и S. B. Zhang, "Химические тенденции образования дефектов и предел легирования в полупроводниках II-VI: Случай CdTe", Phys. Rev. B, vol. 66, no. 15, pp. 155211, 2002.

5. M. А. Грин, "Тонкопленочные солнечные элементы: Обзор материалов, технологий и коммерческого состояния", J. Mater. Sci: Mater. Electron., vol. 18, pp. S15-S19, 2007.

6. M. M. Islam, S. R. Wenham, and R. M. Swanson, "Deep-level transient spectroscopy of CdTe: Доказательства наличия ловушек, связанных с медью", J. Appl. Phys., vol. 102, pp. 083706, 2007.

7. X. Ву, "Высокоэффективные поликристаллические тонкопленочные солнечные элементы CdTe", Sol. Energy, vol. 77, no. 6, pp. 803-814, 2004.

8. T. Накада, Й. Охата и А. Куниока, "Повышение производительности солнечных элементов из CdTe путем введения ультратонких оксидных буферных слоев", Sol. Energy Mater. Sol. Cells, vol. 92, pp. 1361-1365, 2008.

9. M. Бургельман, П. Нолле и С. Дегрейв, "Моделирование поликристаллических полупроводниковых солнечных элементов", Тонкие твердые пленки, том 361-362, стр. 527-532, 2000.

10. S. K. Sharma и T. M. Gupta, "Уровни дефектов и их влияние на производительность солнечных элементов на основе CdTe", J. Electron. Mater., vol. 40, no. 4, pp. 868-875, 2011.

Yuklab olishlar

Nashr etilgan

2026-01-23

Qanday iqtibos keltirish

INFLUENCE OF DEEP IMPURITY ON PHOTOSENSITIVITY OF CdTe-SiO₂-Si HETEROSTRUCTURE. (2026). Scientific Journal of the Fergana State University, 31(3), 160. https://doi.org/10.56292/SJFSU/vol31_iss3/a160