AFK ELEMENTLARINING TUZILISHI VA XUSUSIYATLARINING BOG‘LANISH O‘RGANISH

Karimberdi Onarkulov; Jo‘rayeva Gulnoza Fazlitdinovna Jo‘rayeva Gulnoza Fazlitdinovna

Physics and technology

No. 3 (2024): FarDU.Ilmiy xabarlar jurnali. Ilova to'plam (Aniq va tabiiy fanlar)

STUDY OF THE RELATIONSHIP OF STRUCTURES AND PROPERTIES OF APV ELEMENTS

Karimberdi Onarkulov ^▸^▾
Jo‘rayeva Gulnoza Fazlitdinovna Jo‘rayeva Gulnoza Fazlitdinovna^▸^▾

PDF (Uzbek)

Submitted: August 13, 2024
Published: 2024-09-12

Abstract

This article analyzes theoretical concepts of the appearance of anomalous photovoltage (APV) in structurally inhomogeneous semiconductor films with anomalous photovoltaics based on the parameters of thin films directly obtained in experiments, and also discusses the geometric quantities characterizing the crystallite boundary, the surface state formed at the boundary of the collision of crystallization fronts.

References

Колосов В.Ю., Веретенников Л.М., Старцева Ю.Б., Швам К.Л. Электронно-микроскопические исследования микроструктуры поликристаллических конденсатов на основе халькогенидов: влияние состава и толщины на внутреннее искривление кристаллической решетки. // ФТП.- 2005.- Т.39. В.8.
Наймарк О.Б. Нанокристаллическое состояние как топологический переход в ансамбле зернограничных дефектов. // ФММ. 1997. Т.84. №4. С.5-21.
Неустроев Л.Н., Осипов В.В., Онаркулов К.Э. Исследование внутренней структуры фоточувствительных поликристаллических пленок сульфида свинца с помощью вакуумного прогрева. ФТП.1987.Т.21В.7.С. 5-12.
Атакулов Ш.Б., Зайнолобидинова С.М. Влияние структурных особенностей полликристаллических пленок полупроводников на формирование эффекта аномального фотонапряжения. I. Механизм явления. // Физика и техника полупроводников, 2011, № 46-(6).-с.728-733.

[1] Колосов В.Ю., Веретенников Л.М., Старцева Ю.Б., Швам К.Л. Электронно-микроскопические исследования микроструктуры поликристаллических конденсатов на основе халькогенидов: влияние состава и толщины на внутреннее искривление кристаллической решетки. // ФТП.- 2005.- Т.39. В.8.

[2] Наймарк О.Б. Нанокристаллическое состояние как топологический переход в ансамбле зернограничных дефектов. // ФММ. 1997. Т.84. №4. С.5-21.

[3] Неустроев Л.Н., Осипов В.В., Онаркулов К.Э. Исследование внутренней структуры фоточувствительных поликристаллических пленок сульфида свинца с помощью вакуумного прогрева. ФТП.1987.Т.21В.7.С. 5-12.

[4] Атакулов Ш.Б., Зайнолобидинова С.М. Влияние структурных особенностей полликристаллических пленок полупроводников на формирование эффекта аномального фотонапряжения. I. Механизм явления. // Физика и техника полупроводников, 2011, № 46-(6).-с.728-733.